1、校準入射點(diǎn)（探頭前沿）：用IIW試塊（又稱(chēng)荷蘭試塊）或CSK－IA試塊測斜探頭零點(diǎn)，選擇將儀器聲速調節為3230m/s，顯示范圍為150mm，然后開(kāi)始測試，用戶(hù)如圖將探頭放在試塊上并移動(dòng)，使得R100mm的圓弧面的反射體回波達到 高，用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離，此值即為該探頭的前沿值，R100mm弧圓心對應探頭上的位置即為探頭入射點(diǎn)。 斜探頭校準通常需要以下步驟：1、校準入射點(diǎn)（探頭前沿）；2、校準探頭角度（K值）；3、校準材料聲速；4校準探頭零點(diǎn)。
2、校準探頭角度（K值）：用角度值標定的探頭可用IIW試塊校準，如果是用K值標定的探頭，可用CSK－IA試塊校準。這兩種試塊上有角度或K值的標尺，按探頭標稱(chēng)值選擇合適的標尺（右圖所示，在IIW試塊上側可校準60－76度的探頭，下側可校準74－80度的探頭，CSK-IA試塊上側可校準K2.0、K2.5、K3.0的探頭，下側可校準K1.0、K1.5的探頭。請按試塊上的標定值選擇用合適的校準試塊及校準方法）。如圖放置探頭，左右移動(dòng)使得反射體回波達到 高，此時(shí)入射點(diǎn)對應的刻度就是探頭的角度或K值。
 3、校準材料聲速按照1中所述找到R100mm的 高反射波，調節顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波，選擇閘門(mén)方式為雙閘門(mén)，調節A閘門(mén)與一次回波相交，調節B閘門(mén)與二次回波相交，調節聲速值使得狀態(tài)行中聲程測量值（S）為100，此時(shí)得到的聲速值即為該材料的實(shí)際聲速值。
4、校準探頭零點(diǎn)保持上面的測量狀態(tài)，將閘門(mén)方式改為正或負，調節探頭零點(diǎn)使得狀態(tài)行中聲程測量值（S）再次為100，此時(shí)得到的探頭零點(diǎn)值即為該探頭的零點(diǎn)值。
 斜探頭的校準方法有很多，并不完全拘泥于用標準試塊進(jìn)行校準，也可以用已知深度的小孔進(jìn)行校準，理論上參考反射體越小，校準的精度越高，但校準的難度也相應的加大。用小孔校準時(shí)可通過(guò)測量小孔的深度和水平位置，計算斜率來(lái)校準角度，并利用測得的深度或水平位置值校準聲速和探頭零點(diǎn)。
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